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測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時(shí))
±2℃(在200~300℃時(shí))
光學(xué)放大倍數(shù):目鏡10X;物境4X
SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀(數(shù)顯),SGW X-4
SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀(數(shù)顯)信息由揚(yáng)州華明儀器設(shè)備有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀(數(shù)顯)報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來(lái)電或留言咨詢(xún)。
注:該產(chǎn)品未在中華人民共和國(guó)食品藥品監(jiān)督管理部門(mén)申請(qǐng)醫(yī)療器械注冊(cè)和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途