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牛津儀器半導體檢測儀PlasmaPro 100 ALE用于測定Power Semiconductors，符合行業(yè)標準Oxford Instruments。適用Power Semiconductors項目。

半導體制造解決方案

我們的設備和工藝已通過充分驗證，正常運轉時間可達90%以上，一旦設備安裝完畢，可立即投入使用。PlasmaPro 100系列市場應用廣，包括但不限于： MEMS和傳感器、光電子、分立元器件和納米技術。它具有足夠的靈活性，可用于研究和開發(fā)，通過打造質量滿足生產(chǎn)需求。

PlasmaPro 100 ALE 的特點:

• 準確的刻蝕深度控制；

• 光滑的刻蝕表面

• 低損傷工藝

• 數(shù)字化/循環(huán)式刻蝕工藝——刻蝕相當于ALD

• 高選擇比

• 能加工最大200mm的晶圓

• 高深寬比（HAR）刻蝕工藝

• 非常適于刻蝕納米級薄層

應用

• III-V族材料刻蝕工藝

• 固體激光器InP刻蝕

• VCSEL GaAs/AlGaAs刻蝕

•  射頻器件低損傷GaN刻蝕

• 硅 Bosch和超低溫刻蝕工藝

•  類金剛石（DLC）沉積

•  二氧化硅和石英刻蝕

• 用特殊配置的PlasmaPro FA設備進行失效分析的干法刻蝕解剖逆工藝，可處理封裝好的芯片, 裸晶片，以及200mm晶圓

• 高質量PECVD沉積的氮化硅和二氧化硅，用于光子學、電介質層、鈍化以及諸多其它用途

• 用于高亮度LED生產(chǎn)的硬掩模沉積和刻蝕

原子層刻蝕半導體檢測儀PlasmaPro 100 ALE 應用于高分子材料,PlasmaPro 100 ALE

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注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途