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安捷倫Agilent 串聯(lián)電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 8900ICP-MS信息二維碼

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8900ICP-MS

產(chǎn)品特點(diǎn)

Agilent 8900 串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 是行業(yè)中應(yīng)用廣泛的串聯(lián)電感耦合等離子體質(zhì)譜儀。Agilent 8900 ICP-MS/MS 提供了一系列配置,適合從常規(guī)商業(yè)分析到高級(jí)研究和高純度材料分析的應(yīng)用,其重新定義了 ICP-MS 性能,可提供可靠的分析結(jié)果。

詳細(xì)介紹

安捷倫Agilent 串聯(lián)電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 8900ICP-MS

Agilent 8900 串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 是行業(yè)中應(yīng)用廣泛的串聯(lián)電感耦合等離子體質(zhì)譜儀。Agilent 8900 ICP-MS/MS 提供了一系列配置,適合從常規(guī)商業(yè)分析到高級(jí)研究和高純度材料分析的應(yīng)用,其重新定義了 ICP-MS 性能,可提供可靠的分析結(jié)果。

8900 系統(tǒng)具有與安捷倫市場(chǎng)的單四極桿 ICP-MS 系統(tǒng)相同的基質(zhì)耐受性和穩(wěn)定性,并與超高效的氦 (He) 碰撞模式相結(jié)合。但 8900 系統(tǒng)增加了串聯(lián)質(zhì)譜操作 (ICP-MS/MS),可對(duì)碰撞反應(yīng)池 (CRC) 中的反應(yīng)化學(xué)過程進(jìn)行精確的控制。

 

特性

1、MS/MS 控制反應(yīng)化學(xué)過程,可確保提供一致、可靠的結(jié)果,即使對(duì)于此前難以分析的元素(如 Si、P 和 S)也是如此。

2、反應(yīng)化學(xué)過程可解決同量異位素重疊問題,這超出了高分辨率 ICP-MS 的能力。

3、四通道反應(yīng)池氣體控制可提供快速、靈活的多模式操作。

4、一套預(yù)設(shè)方法簡(jiǎn)化了常規(guī)分析的方法設(shè)置。

5、氦氣模式可簡(jiǎn)單、有效地控制常見的多原子干擾。

6、穩(wěn)定的(低 CeO/Ce)等離子體,可提供出色的基質(zhì)耐受性。

7、超高基質(zhì)進(jìn)樣 (UHMI) 技術(shù)可耐受總?cè)芙夤腆w量 (TDS) 高達(dá) 25% 的樣品。

8、高靈敏度和低背景為超痕量分析物提供了超低的檢測(cè)限。

9、通用性和高性能相結(jié)合,支持高級(jí)研究和要求苛刻的應(yīng)用。

10、靈活的操作模式(母離子/產(chǎn)物離子掃描)支持對(duì)反應(yīng)化學(xué)模式進(jìn)行研究

 

什么是串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS)?

串聯(lián)四極桿 ICP-MS 是一種用于元素分析的串聯(lián)質(zhì)譜儀 (MS/MS)。ICP-MS/MS 在碰撞/反應(yīng)池 (CRC) 前增加了一個(gè)額外的四極桿質(zhì)量過濾器 (Q1),因此質(zhì)譜干擾問題可以通過反應(yīng)池氣體和氦氣 (He) 碰撞模式得到解決。為了在單位 (1 u) 質(zhì)量分辨率下實(shí)現(xiàn)高離子傳輸效率,ICP-MS/MS 的兩個(gè)四極桿都必須在高真空條件下運(yùn)行。ICP-MS/MS 尤其適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實(shí)現(xiàn)成功分析的高級(jí)應(yīng)用。

 

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 工作原理

ICP-MS/MS 使用兩個(gè)四極桿質(zhì)量過濾器對(duì)離子進(jìn)行兩次過濾,Q1 位于 CRC 之前,Q2 位于 CRC 之后。雙重質(zhì)量過濾 (MS/MS) 能夠控制 CRC 中用于解決質(zhì)譜重疊干擾的反應(yīng)過程。Q1 剔除目標(biāo)分析物質(zhì)量以外的所有離子,因此只有分析物離子和相同質(zhì)量的干擾物能夠進(jìn)入 CRC。反應(yīng)池氣體將分析物離子與重疊離子分離,且不存在單四極桿 ICP-MS 中可能發(fā)生的其他元素或同位素形成新的重疊產(chǎn)物離子的風(fēng)險(xiǎn)。


串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 的用途是什么?

ICP-MS/MS 適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實(shí)現(xiàn)理想分析的高要求應(yīng)用。這些應(yīng)用可能需要極低的檢測(cè)限,例如,檢測(cè)半導(dǎo)體制程化學(xué)品和高純度材料中的超痕量污染物或檢測(cè)極小的納米顆粒。ICP-MS/MS 可以利用 MS/MS 消除同量異位素干擾、雙電荷離子干擾、相鄰質(zhì)量數(shù)重疊干擾以及高強(qiáng)度的多原子干擾。這種能力使它可以分析低濃度的非常規(guī)分析物,如 Si、P、S、Cl,甚至是 F。


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