泰思肯（Tescan）MAGNA高分辨場發(fā)射掃描電鏡

產(chǎn)品簡介：

TESCAN MAGNA是一款分析儀器，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。MAGNA配置 Triglav? 型 SEM 鏡筒，具有高的分辨率，在低電壓下尤為明顯；鏡筒內(nèi)探測器系統(tǒng)具有電子信號過濾能力，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度，適用于不導(dǎo)電樣品的成像，如陶瓷、無涂層生物樣品，以及在半導(dǎo)體光敏樣品等。

• 實時電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing?)功能，可設(shè)置優(yōu)化束斑尺寸和束流強度。

• TriBETM和TriSETM In-Beam探測器系統(tǒng)，實現(xiàn)納米尺度表征。

• TESCAN Essence?便利的電鏡操作軟件。 

• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，如EDS、EBSD、CL、Raman聯(lián)用。