天華TH-115型表面粗糙度測量儀是用于測量工件表面粗糙度的精密測量設(shè)備，主要由光切顯微鏡﹑CCD﹑視頻采集模塊﹑控制模塊﹑步進電機、計算機、打印機等部分組成，系統(tǒng)采用光切原理對工件進行非接觸測量，主要運用了視頻采集﹑數(shù)字圖像處理﹑數(shù)字信號處理﹑精密測量與控制等多項技術(shù)，系統(tǒng)軟件按新國家標準GB/T3505—2000等的要求編寫，可輸出并顯示全部粗糙度相關(guān)參數(shù)與曲線，實時顯示被測表面輪廓的顯微圖象，對被測量表面輪廓進行局部放大，可實現(xiàn)自動與手動測量，Windows環(huán)境下全中文界面的工作軟件等，按要求輸出精美的測試。

測量：0.1μｍ；

測量范圍：0.1μｍ< Ra < 30μｍ

測量參數(shù)（按GB/T 3505—2000）：

   幅度參數(shù) ：                            代表符號

       輪廓峰高                          Rp 

       輪廓谷深                          Rv

       輪廓的高度                        Rz

       輪廓單元的平均線高度                  Rc

輪廓的總高度                          Rt

評定輪廓的算術(shù)平均偏差                Ra

評定輪廓的均方根偏差                  Rq

評定輪廓的偏斜度                      Rsk

評定輪廓的陡度                        Rku

間距參數(shù)：

輪廓單元的平均寬度                    RSm   

混合參數(shù)：

  評定輪廓的均方根斜率                  R△q

曲線和相關(guān)參數(shù)：

 輪廓的支承長度率                      Rmr(c)

 輪廓截面高度差                        Rδc

相對支承比率                          Rmr

輪廓的支承長度率曲線

輪廓幅度分布曲線