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Acoustic Particle Sizing of Milk

專門的APS硬件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化了操作，同時(shí)減少維護(hù)。這個(gè)設(shè)計(jì)適合研發(fā)以及重復(fù)質(zhì)量控制測(cè)量。APS也適合過程在線操作。

多孔材料表面Zeta電位分析儀

主要用途：

• 半導(dǎo)體化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)料漿；

• 陶瓷；

• 油墨；

• 乳劑穩(wěn)定性；

• 藥品；

• 生物膠體；

• 熒光粉；

• 有機(jī)和無機(jī)顏料如Ti02和炭黑；

• 催化劑；

• 礦物；

• 聚合物乳液；

• 水和非水分散體系；

技術(shù)參數(shù)：

• 完整的粒度分布,而不是簡(jiǎn)單的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差大小的數(shù)據(jù)；

• 不需要稀釋樣品；

• 不需要假設(shè)PSD形狀；

• 粒度范圍：0.005-100微米；

• 無電解質(zhì)干涉；

• 可測(cè)量水的/非水的/不透明的/粘性的樣品；

• 可測(cè)量縱向粘度，%固體，PH值，電導(dǎo)率，溫度，聲衰減和聲速度譜；

• 具有自動(dòng)滴定選項(xiàng)；

• 專門技術(shù)：1-100MHz聲衰減譜；

• 溶劑：水/非水；

• 樣品固體%：0.1-60%體積比；

• 樣品體積：標(biāo)準(zhǔn)是120ml，50ml小體積可用；

APS-100高濃度納米粒度儀  CHDF4000型納米粒度儀及成分分析儀          Zeta-APS型電位分析儀

多孔材料表面Zeta電位分析儀

原理簡(jiǎn)介：

APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。

當(dāng)聲音穿越泥漿或膠體時(shí)，是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關(guān)。APS可在1 - 100 MHz的頻率范圍內(nèi)非常準(zhǔn)確地測(cè)量聲音衰減。因?yàn)槁曇舸┻^所有的物質(zhì)媒介，APS聲音衰減的測(cè)量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進(jìn)行。粒子沉降并不是一個(gè)問題，因?yàn)樵跍y(cè)量時(shí)樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢(shì)水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。

APS取樣分析是快速和容易的，無需稀釋樣品。稀釋樣品費(fèi)時(shí)，容易出錯(cuò)，并可能改變樣品的實(shí)際PSD。簡(jiǎn)單地倒，或者連續(xù)泵送樣品進(jìn)入到APS的樣品室，APS的直觀的軟件在幾分鐘內(nèi)做玩余下的工作。

計(jì)算詳細(xì)PSD數(shù)據(jù)的技術(shù)，不需要假設(shè)PSD形狀。其他類型的儀器，例如光散射，意味著軟件或操作者假設(shè)或猜測(cè)PSD是單峰、雙峰、對(duì)數(shù)正態(tài)或高斯分布的。這種假設(shè)可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)不可靠。

美國(guó)MASaps-100多孔材料表面Zeta電位分析儀 樣本,aps-100

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注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國(guó)食品藥品監(jiān)督管理部門申請(qǐng)醫(yī)療器械注冊(cè)和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途