/ /

點擊查看下載Agilent 5900 SVDV ICP-OES 安捷倫ICP-AES ICP-OES 電子書下載—如何避免浪費時間的重復測量 相關資料，進一步了解產品。

很多原因都可能導致您不得不二次測量樣品。測量過程中可能發(fā)生樣品混淆或其他問題。您可能只有在 QC 溶液分析失敗或者檢查結果并注意到異常時才會發(fā)現(xiàn)問題。無論出于何種原因，重新測量樣品都非常費時、令人倍感壓力且成本高昂。 必須重新測量樣品的原因通常分為兩類：儀器相關問題和樣品相關問題。樣品相關問題包括從樣品消解和前處理到樣品基質問題和樣品混淆的各種問題。 本文介紹了如何避免其中常見的問題及如何應對，從而節(jié)省時間。

Agilent 5900 SVDV ICP-OES 系統(tǒng)是一種發(fā)射光譜儀，專為要求最為嚴格的高通量實驗室而設計。利用該系統(tǒng)，您可以在更短時間內以低于其他任何 ICP-OES 儀器的樣品成本獲得可靠答案。

憑借創(chuàng)新的自由曲面光學設計與包含眾多內置傳感器、算法和診斷功能的智能化監(jiān)控體系，以及針對最大程度提高通量而進行的全面優(yōu)化，5900 SVDV ICP-OES 可確保讓您在競爭中脫穎而出。

• 采用同步垂直雙向觀測 (SVDV)，實驗室能夠以較低成本運行更多樣品，該觀測模式憑借獨特的智能光譜組合技術 (DSC)，可在一次讀數過程中同時獲得軸向和徑向的等離子體觀測數據，從而實現(xiàn)高速高效的樣品分析，確保復雜基質樣品的分析準確度。

• 使用 5900 ICP OES 隨附的集成式高級閥系統(tǒng) (AVS)，加快分析速度并大大減少氬氣用量，同時實現(xiàn)高精度的分析。

• 在數秒內開始采集數據，無需選擇使用 IntelliQuant Screening 分析的元素或波長

• 使用安捷倫獨有的 IntelliQuant 功能，了解有關樣品的更多信息。IntelliQuant 能夠采集整個波長范圍內的數據，識別光譜干擾并為您提供建議，確保您始終獲得準確結果。

• 通過傳感器和計數器進行智能儀器狀態(tài)追蹤，并在系統(tǒng)需要維護時為用戶提供指導，助您有效縮短停機時間、降低維護成本。

• Neb Alert 功能可持續(xù)監(jiān)測霧化器，并在霧化器需要清潔或發(fā)生泄漏時提醒您，從而避免時間浪費和故障排除成本。

• 內置于 ICP Expert 軟件的智能算法使方法開發(fā)更有據可依，并能實現(xiàn)自動化故障排除，包括：擬合背景校正 (FBC)、快速自動曲線擬合技術 (FACT)、元素間干擾校正 (IEC)、IntelliQuant 和智能沖洗。

• 利用 ICP Expert Pro 軟件提高分析效率和增強質量控制，該軟件為用戶提供了實時導出到 Microsoft Excel、自定義重復檢測、集成的 prepFAST 自動稀釋器操作、速率驅動的 QC 以及其他高級軟件功能。

Agilent 5900 SVDV ICP-OES 安捷倫ICP-AES ICP-OES 電子書下載—如何避免浪費時間的重復測量 ,5900 ICP-OES

Agilent 5900 SVDV ICP-OES 安捷倫ICP-AES ICP-OES 電子書下載—如何避免浪費時間的重復測量 信息由安捷倫科技（中國）有限公司為您提供，如您想了解更多關于Agilent 5900 SVDV ICP-OES 安捷倫ICP-AES ICP-OES 電子書下載—如何避免浪費時間的重復測量 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途