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產(chǎn)品簡介
基于專 利的、源自德國的主動(dòng)式針尖技術(shù),百及納米科技開發(fā)了下一代工業(yè)智能型原子力顯微鏡系統(tǒng),針對(duì)工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用提供快速、智能的樣品形貌表征,適用于工業(yè)型檢錯(cuò)、質(zhì)量評(píng)定和量化測量等,尤其適用于檢測大尺寸晶圓或光學(xué)晶圓。
系統(tǒng)集成了大尺寸樣品位移臺(tái)、全自動(dòng)光學(xué)導(dǎo)航系統(tǒng)和配套自動(dòng)控制軟件,可對(duì)大尺寸樣品進(jìn)行的光學(xué)成像定位,根據(jù)光學(xué)成像結(jié)果自動(dòng)標(biāo)定多個(gè)準(zhǔn)確測量區(qū)域,并根據(jù)缺陷/待測結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)進(jìn)行模式識(shí)別,智能選取原子力顯微鏡測量參數(shù),在樣品多個(gè)位置間自動(dòng)移動(dòng),進(jìn)行可重復(fù)的高分辨率測量,生成檢測書面報(bào)告,整個(gè)過程無需人工參與,實(shí)現(xiàn)對(duì)大尺寸樣品形貌的智能化、自動(dòng)化的高速、高質(zhì)量納米級(jí)測量。
產(chǎn)品特點(diǎn):
· 頂 級(jí)自動(dòng)化功能、測量過程無需激光調(diào)節(jié)、即插即用式針尖更換方案、快速自動(dòng)進(jìn)針,
· 針對(duì)高深寬比的溝槽或孔洞結(jié)構(gòu),采用特制的長針尖提供微納米結(jié)構(gòu)的三維形貌準(zhǔn)確測量,
· 可升級(jí)至多針尖并行測量模式,大幅提高微納結(jié)構(gòu)表征的范圍和效率,
· 可升級(jí)為基于針尖光刻的微納米結(jié)構(gòu)高性能加工系統(tǒng),大氣環(huán)境下快速直寫5nm以下結(jié)構(gòu)。
功能指標(biāo)
樣品尺寸 | 100 mm x 100 mm (4英寸) 至 300 mm x 300 mm (12英寸) |
成像分辨率 | 優(yōu)于1 nm (水平方向:0.3 nm, 垂直方向:0.2 nm) |
樣品臺(tái)定位精度 | 運(yùn)動(dòng)精度優(yōu)于1nm,重復(fù)精度優(yōu)于10nm,采用閉環(huán)回路定位準(zhǔn)確控制。 |
單場掃描范圍 (X, Y, Z) | 35μm x 35μm x 10μm (備選: 100μm x 100μm x 30μm) |
測量模式 | 1. 非接觸式(形貌、相位、誤差) 接觸式&力曲線 2. 擴(kuò)展模式(導(dǎo)電探針(C-AFM)、開爾文探針力顯微鏡 (KPFM)、磁力顯微鏡 (MFM)、掃描針尖光刻 (SPL)等) |