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浪聲 X射線熒光測厚儀 鍍層分析儀 INSIGHT PCB、晶圓版信息二維碼

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INSIGHT PCB、晶圓版

產(chǎn)品特點(diǎn)

曉INSIGHT旨在為鍍層分析應(yīng)用提供精準(zhǔn)高效的分析方法。曉INSIGHT易于操作,配置靈活,可輕松超薄鍍層的挑戰(zhàn)。

詳細(xì)介紹

鍍層作為保證電子行業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量可靠性和穩(wěn)定性的主要工藝,其厚度是產(chǎn)品質(zhì)量的重要保證因素,因此,對鍍層厚度的質(zhì)量控制/保證至關(guān)重要,X射線熒光(XRF)因為其非破壞性、測量快速、易于使用,已成為一種廣泛使用的鍍層厚度和成分測量技術(shù)。


INSIGHT旨在為鍍層分析應(yīng)用提供準(zhǔn)確高效的分析方法。曉INSIGHT易于操作,配置靈活,可輕松超薄鍍層的挑戰(zhàn),提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的結(jié)果,幫助諸多的PCB、半導(dǎo)體等電子相關(guān)行業(yè)有效提高生產(chǎn)力,確保符合規(guī)范,以避免出現(xiàn)性能低下的風(fēng)險以及與廢料或返工相關(guān)的成本。


使用優(yōu)勢


多準(zhǔn)直器組件

可選配多準(zhǔn)直器組合自動切換,使得曉INSIGHT的多功能性得以顯著提升,以靈活應(yīng)對不同尺寸的零件。


上照式設(shè)計

儀器采用上照式設(shè)計,可輕松實現(xiàn)對超大型、不規(guī)則、微小件、甚至液體形態(tài)樣品的快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效測量。


高強(qiáng)度X射線管

曉INSIGHT可選配高強(qiáng)度毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng),可為儀器帶來更高的計數(shù)率、  更小的點(diǎn)位測量,更薄的鍍層測量,有助于將儀器的分析效率翻倍。


可編程自動位移樣品臺

選配自動平臺,輕松實現(xiàn)自動測量,可以更快的準(zhǔn)備和測量樣品,從而提高分析量。


一鍵式測量

配備直觀而智能的分析軟件,操作簡單,任何人無需培訓(xùn)都可以測試樣品,僅僅需要點(diǎn)擊“開始測試”,數(shù)十秒即可獲得檢測結(jié)果啦。


提高生產(chǎn)力

曉INSIGHT自動化功能幫助您可以更快地測量樣品,從而提高您的分析量。


超大測量室

儀器殼體的開槽設(shè)計(C型槽)使得測量空間寬大,樣品放置便捷,可以測量如印刷線路板類大而平整的物品,也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。


高靈敏度的檢測器

對于復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu),SDD系列檢測器更易分析具有類似XRF特征的元素,具有更佳分辨率、更低的背景噪聲(高 S/N 比),并且可以更精確地測量較薄鍍層。


自動對焦

無論樣品厚薄或大小如何,都可在幾秒鐘內(nèi)自動對樣品進(jìn)行對焦??蓮倪h(yuǎn)至80毫米的距離測量樣品,非常適合測量具有凹陷區(qū)域的零件,或者適用于測量不同高度的多個樣品。


應(yīng)用場景


印刷電路板

Au/Ni/Cu/ PCB;Sn/Cu/PCB;Au/NiP/Cu/PCB;Ag/Cu/PCB;Sn/Cu/PCB;SnPd/Cu/PCB;Au/Pd/NiP/Cu/PCB


連接器鍍層

電子和電氣工業(yè)中,電接觸用保護(hù)和耐磨鍍層的應(yīng)用正在不斷增多。接觸件作為電連接器的核心零部件,通過表處理能提高接觸件的耐蝕、耐磨功能,也能在很大程度上優(yōu)化接觸件的傳輸功能。

電連接器接觸件基材一般為銅合金,常用的鍍層有:鍍錫、鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鈀等。


晶圓制造(半導(dǎo)體)

晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片。在生產(chǎn)過程中,需要對晶圓進(jìn)行電鍍工序,即在晶圓上電鍍一層導(dǎo)電金屬,后續(xù)還將對導(dǎo)電金屬層進(jìn)行加工以制成導(dǎo)電線路。

晶圓作為芯片的基本材料,其對于電鍍鍍層的要求嚴(yán)格,故而工藝的要求也較高。晶圓電鍍時必須保證鍍層的均勻性和厚度,方能保證晶圓的質(zhì)量。


引線框架

引線框架是連接半導(dǎo)體集成塊內(nèi)部芯片的接觸點(diǎn)和外部導(dǎo)線的薄板金屬框架,是半導(dǎo)體封裝的一種主要結(jié)構(gòu)材料。為了保證封裝工藝中的裝片/鍵合性能,需要對引線框架進(jìn)行特殊的表面處理,常見的引線框架鍍層元素有金、銀、鈀、鎳等。


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